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시험분석 사업부

TEST ANALYSIS DIVISION

Emission Test

Photon/thermal emission microscope는 wafer 및 package 상태의 device에 전기적 신호를 인가한 후 불량 위치에서 발생하는 미약한 광자/열을 검출한 시스템으로, device의 누설 전류 및 short불량 위치를 검출할 때 사용한다.

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