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시험분석 사업부

TEST ANALYSIS DIVISION

저온동작수명 시험

저온에서 장시간 동작할 때 어떤 신뢰성을 보이는지 평가하는 시험이다.시료에 규정된 bias를 인가 하고 규정된 온도(저온)에서 장시간 시험한다.LTOL의 개념은 기본적으로 HOTL과 동일하며, 이 시험에서 나타나는 주요불량은 미세회로 공정으로 인한 트랜지스터의 채널 축소로 인한 Hot carrier 현상에 기인된 불량을 관찰하기 위함이다.

Reference Documents

Stress Ref. Abbv. Conditions
Low Temperature Operating Life JESD22-A108 LTOL TJ ≤ 50 °C Vcc ≥ Vcc max

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