첨단분석 / 시험 서비스

IC Image Extraction

    IC Image Extraction

    • Scanning Electron Microscope & Optical Microscope를 이용하여 System IC 제품에 대한 Layer별 이미지 추출합니다.
    • De-process : 14 ~ 28nm
    • Metal material : Al, Au and Cu
    • Analyzed Chips : BCD, SOI, GaAs and SiGe

    자료 사진

    • Optical Microscope Image
    • Scanning Electron Microscope Image