첨단분석 / 시험 서비스

I-V Curve

    I-V Curve

    • 반도체의 전기적 특성을 Parameter Analyzer 를 활용하여 측정, 불량 현상을 분석
    • 반도체의 전기적 특성을 측정하여 Open/ Short /Leakage 성 불량 현상을 확인하는데 사용합니다.
    • 측정에서 확인되는 불량 현상에 따라 분석 절차를 검토 하기 때문에 초기 분석에서 매우 중요한 역할을 합니다.

    기술 적용

    • Curve Trace
    • I-V Measurement

    분석 사례

    • Short
    • High Leakage
    • Open