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SEM
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FIB
SEM
EDS
FIB
EDS
SEM 장비내 장착된 X선 분광분석기 입니다.
전자를 주사하여 재료와 충돌할 때 발생되는 X-Ray Signal을 활용하여 정밀한 성분분석 가능하며
X선 파장의 특성을 사용하여 무기물에 함유된 다양한 원소의 종류와 함량, 결합을 분석 합니다.
분석 적용
불량 영역
성분분석 Migration
불순물
정량 분석
혼합비율
공정 성분
정성 분석
물질 구성 성분
장비 스펙
분석장비 상세정보
제작사/모델명 : Thermo Electron / Super Dry II
1. 분해능 : 139eV
2. 정성/정량 분석 Software
3. Mapping
4. Line Scan
5. Point Analysis
분석 사례
EDX
DIVISION
C-K
O-K
Cl-K
Ca-K
Ti-K
Cu-K
pt1
42.32
32.82
6.41
11.58
1.32
5.55