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ELFR

    ELFR (Early Life Failure Rate)

    • 가속 스트레스 조건으로 동작시의 열적, 전기적 가속조건을 부여하여 초기 불량을 유발
    • 동작시의 열적, 전기적인 문제점을 평가 하는 목적, 일반적으로 공정 또는 설계상의 문제점을 찾을 수 있으며 제품의 수명을 추정하는 데에 사용 가속인자 (온도 및 전압)을 이용 하여 시장에서의 제품
      • 불량율(FIT : Failure-in Time) 및 평균 수명 (MTTF : Mean Time To Failure) 을 예측 하기 위해 실시 하며 가능한 Set 실장조건과 유사 하도록 제품을 Operating 시켜야 한다.

    진행 조건

    Early Failure Rate Duration / Temperature
    JEDEC(Industrial) AEC-Q100(Automotive)
    48 Hrs ≤ t ≤ 168hrs , 125℃ ≤ Tj , Vcc Max Grade 0: 48 hours at 150 °C or 24 hours at 175 °C , Vcc Max
    Grade 1: 48 hours at 125 °C or 24 hours at 150 °C , Vcc Max
    Grade 2: 48 hours at 105 °C or 24 hours at 125 °C , Vcc Max
    Grade 3: 48 hours at 85 °C or 24 hours at 105 °C , Vcc Max
    Grade 4: 48 hours at 70 °C or 24 hours at 90 °C , Vcc Max

    욕조 곡선

    • ▶ 초기 불량 기 : 반도체 제조 과정에서 각종 공정 및 환경의 불안정성으로 인해 고정불량 또는 잠재적인 불량이 발생되는 구간
    • 가속 스트레스 조건으로 동작시의 열적, 전기적 가속조건을 부여하여 초기 불량을 유발하여, ELFR구간에서 초기에 발생 할 수 있는 높은 불량을 유발하여 잠재적인 불량을 제거합니다. 현재의 상태에서 앞으로 일어날 불량을 stress를 인가하여 미리 검출하여 Screen